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電鏡電極結構的變化可以通過(guò)測量孔隙率或比表面積等方法測量

更新時(shí)間:2019-12-02      瀏覽次數:2521
   電鏡電極結構的變化可以通過(guò)測量孔隙率或比表面積等方法測量
  在快速充放電或電極活性物質(zhì)分布不均勻的情況下,活性物質(zhì)容易發(fā)生粉化或碎裂。一般來(lái)講,隨著(zhù)電池電鏡電極使用的延長(cháng),微米級尺寸的顆粒,由于離子嵌入的內部應力可能會(huì )發(fā)生碎裂。初始的裂紋可以通過(guò)SEM在活性物質(zhì)顆粒表面觀(guān)測到,隨著(zhù)鋰離子的重復嵌入脫出,其裂紋會(huì )不斷的延伸導致顆粒開(kāi)裂。開(kāi)裂的顆粒會(huì )暴露出新的活性表面,新表面上又會(huì )生成SEI膜。通過(guò)對鋰離子嵌入應力產(chǎn)生的研究和分析,能夠更好的設計電池的電極材料。
  電極材料的體積變化也會(huì )導致活性物質(zhì)與集流體失連,從而使這部分活性物質(zhì)不可被利用?;钚晕镔|(zhì)的嵌鋰過(guò)程,伴隨著(zhù)電池內部的離子遷移和外部的電子遷移。由于電解液是電子絕緣的,因此只能提供離子的傳導。而電子的傳導主要依靠電極表面由導電劑所構成的導電網(wǎng)絡(luò )。電極材料體積的頻繁變化會(huì )導致部分活性物質(zhì)脫離導電網(wǎng)絡(luò ),形成孤立體系,從而不可被利用。電鏡電極結構的這種變化可以通過(guò)測量孔隙率或比表面積等方法測量。這個(gè)過(guò)程還可以利用聚焦離子束(FIB)對電極表面進(jìn)行銑削,利用SEM對電極進(jìn)行形貌觀(guān)測或X射線(xiàn)斷層掃描測試。
  電鏡電極詳細資料:
  也叫可拆卸玻碳電極,兩用玻碳電極
  推進(jìn)式電鏡電極
  頭材料:PEEK
  電極桿材料:PTFE
  玻碳電極直徑:2mm,3mm,4mm,5mm,6mm
  電極材料:鉑、金、玻碳及銀銅鋁鎳等材料
  電極頭長(cháng)度:≤7mm,
  電極頭長(cháng)度:≤5mm,
  或根據客戶(hù)要求定做
  以上便是今天關(guān)于電鏡電極結構的變化可以通過(guò)測量孔隙率或比表面積等方法測量的全部分享了,希望對大家今后使用本設備能有幫助。
 

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